當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > > 磁光克爾測試平臺 > Mag-PMA Checker磁光克爾效應(yīng)磁滯回線測量儀
簡要描述:磁光克爾效應(yīng)磁滯回線測量儀:從當(dāng)下主流的機械硬盤,到未來的磁性存儲單元,磁滯回線測量都是評估薄膜性質(zhì)的重要手段。 相較于電學(xué)霍爾測量和震動磁強計,光磁克爾效應(yīng)具有測量速度快,精度高,非侵入,且不需要對樣品進行加工或切片等操作的特點。
產(chǎn)品簡介
品牌 | 其他品牌 | 供貨周期 | 兩周 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,電子 |
詳細(xì)介紹
磁光克爾效應(yīng)磁滯回線測量儀產(chǎn)品簡介
從當(dāng)下主流的機械硬盤,到未來的磁性存儲單元,磁滯回線測量都是評估薄膜性質(zhì)的重要手段。 相較于電學(xué)霍爾測量和震動磁強計,光磁克爾效應(yīng)具有測量速度快,精度高,非侵入,且不需要對樣品進行加工或切片等操作的特點。通過對磁滯回線的分析,用戶不但可以得到矯頑力及相對磁化強度等信息,亦可了解磁性薄膜磁各向異性等性質(zhì)。針對不同矯頑力的多層磁性薄膜結(jié)構(gòu),磁光克爾測量可以分析出逐層的磁滯回線信息。
上海屹持光電提供的磁滯回線測量儀標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)按照性能優(yōu)先,穩(wěn)定性優(yōu)先的設(shè)計思路,可以滿足實驗室研究及工業(yè)生產(chǎn) 中各種磁性薄膜材料的測試需求。針對不同磁各向異性材料的光學(xué)響應(yīng),我們提供兩種測試組件:PMA Checker 以及 IMA Looper,兩種系統(tǒng)共享一套數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),切換方便?!翱刂坪?光磁主體+電腦"的套裝(如上圖所示)即是完整的設(shè)備,無需任何外置儀表(電源,鎖相放大器)客戶即可快速完成磁滯回線的測量;此外,客戶可以自主選擇使用鎖相放大器(SR830/810,Zurich MFLI)進行數(shù)據(jù)采集,該設(shè)備預(yù)留了與鎖相放大器匹配的接口。
該磁滯回線測量儀產(chǎn)品提供基于 LabView的程序,方便客戶快速上手?;?C,Python的控制程序也可應(yīng)客戶要求提供。
? 自旋/磁電子學(xué)
? 磁性納米技術(shù)
? 非易失性磁性隨機存儲器
? 磁阻研究
? 磁性薄膜
右圖測試樣品結(jié)構(gòu)(Si 襯底/MgO (2)/Pt (4)/Co (0.2)/[Ni (0.2)/Co (0.2)] 2 /X(2)/MgO (1)/Si (3) (厚度為納米,X=Pt, Cu, MgO, Ir, Ta, W, and Hf )
磁滯回線測量儀技術(shù)參數(shù)
主要功能 | 垂直膜磁滯回線測量 |
測試模式 | 磁光克爾效應(yīng)-反射式 |
光磁主體構(gòu)成 | 半導(dǎo)體激光+起偏器+檢偏器+探測器+探測器放大電路+電源管理電路+樣品托+霍爾傳感器(可選)+電磁鐵 |
克爾角分辨率 | 0.001° |
磁場強度1 | ±3600 Oe |
設(shè)備控制盒構(gòu)成 | 數(shù)據(jù)采集模組+電磁鐵電源+系統(tǒng)供電模組 |
供電輸入 (控制盒) | 220 VAC 50 Hz |
數(shù)據(jù)采集(控制盒內(nèi)) | 16位精度,50kS/s |
電磁鐵電源 (控制盒內(nèi)) | (控制盒內(nèi))90瓦 |
尺寸(光磁主體)2 | 60 毫米× 80毫米 × 160毫米 |
尺寸(控制盒)2 | 251 毫米× 60毫米 × 38毫米 |
1 更大磁場強度可按需定制
2 該尺寸不包含光學(xué)及電學(xué)連接器伸出的部分
該系統(tǒng)的定位是為客戶提供穩(wěn)定、快捷、磁滯回線測量設(shè)備,簡單并且可靠。如需更多附加功能,例如:磁疇成像,微區(qū)測量,集成溫控設(shè)備,集成電學(xué)測量設(shè)備,集成樣品掃描成像等選項,我們建議客戶考慮 TTT-Mag-Kerr Microscope 系列產(chǎn)品。
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